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半導体情報誌“eye”

半導体製品に関する最新情報をお届けします。

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最新号のご紹介

32nmプロセスの多値NANDを採用したSSDのラインアップ拡充
フォトカプラ:TLP2418/TLP2404/TLP2451
125℃高温動作対応SO8パッケージ
低電圧LSIを実現するSRAM回路技術の開発
32nmで試作、0.7V動作の不良率1/10000

発行内容一覧

2010年のバックナンバー(PDF形式)がご覧いただけます。

2010年

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